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薄膜介質損耗儀 介電常數測試儀

薄膜介質損耗儀 介電常數測試儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。介質損耗和介電常數是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據。
產品品牌: 霍爾德?電子
價格: 我要詢價
廠商性質: 生產廠家
產品時間: 2025-06-20

產品概述

介質損耗和介電常數是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據。


薄膜介質損耗儀 介電常數測試儀是一種用于精確測量材料介電性能的專業儀器,主要應用于以下領域:

1.科研機構——用于新型電介質材料的性能分析與理論研究,為材料科學領域的創新提供實驗依據;

2.高等院校——作為教學與科研的重要設備,支撐材料學、物理學、電子工程等學科的實驗研究;

3.工業企業——用于無機非金屬材料(如陶瓷、玻璃、高分子復合材料等)的質量控制與性能優化,指導產品開發與工藝改進。

該儀器在電子元器件、絕緣材料、新能源器件等領域具有廣泛的應用價值,為新型功能材料的研發與產業化提供關鍵測試手段。


薄膜介質損耗儀 介電常數測試儀

薄膜介質損耗儀 介電常數測試儀參考標準

u GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法;

u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法;

u ASTM-D150-介電常數測試方法;

u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測試方法。


技術參數

1信號源DDS數字合成 10KHZ-70MHz
2采樣精度11BIT
3測量范圍1-1000自動/手動量程
4分辨率0.1
5測量工作誤差<5%
6電感測量范圍分辨率0.1nH
7電感測量誤差<3%
8調諧電容主電容30-540pF
9電容直接測量范圍1pF~2.5uF
10調諧電容誤差±1 pF或<1% 0.1pF
11諧振點搜索自動掃描
12合格預置范圍5-1000聲光提示
13LCD顯示參數F,L,C,Q,Lt,Ct等
14介質損耗系數精度萬分之一
15介電常數精度千分之一
16材料測試厚度0.1mm-10mm
17技術儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。大電容值直接測量顯示。數顯微測量裝置,直接讀值。





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